Edellinen kuva
Lähennä
Loitonna
Keskitä
Seuraava kuva
Siirry sisältöön
Etusivu
Hakutoiminnot
Haku kirjaston kokoelmista
Hae painettuja ja elektronisia kirjoja, lehtiä, opinnäytetöitä jne.
Kotimaisten artikkelien haku
Hae kotimaisia artikkeleita Arto-artikkeliviitetietokannasta ja Journal.fi-palvelusta.
Ulkomaisten artikkelien haku
Haku Turun seudun muista kirjastoista
Hae Turun yliopiston, Åbo Akademin ja Vaski-kirjastojen aineistoja.
Selaa e-lehtiä
Selaa elektronisia lehtiä aihealueen mukaan.
Selaa tietokantoja
Hakuhistoria
Istuntokohtainen hakuhistoriasi. Kirjautumalla voit tallentaa hakusi.
Tietokannat
Finnan ohjeet
Tiedonhakijan oppaat
Tiedonhakijan oppaat - etusivu
Johdatus tiedonhankintaan -opas
Artikkelien hakuopas
E-aineistojen ohjeet
E-kirjaopas
Digitaalisten aineistojen käyttöopas
E-aineistojen saavutettavuus
Hoitotyö- ja terveysalan opas
Kirjasto- ja tietopalvelualan opas
Kulttuurialan opas
Kuntoutuksen ja terveysalan erityisaluiden opas
Liiketalous- ja myyntityöalan opas
Sosiaalialan opas
Tekniikan alan opas
Kirjasto
Turun AMK:n kirjasto- ja tietopalvelut
Yhteystiedot ja aukioloajat
Lainaus
Laina-ajat, kirjastokortin hankkiminen, kaukopalvelu ym.
Suomi
Suomi
English
Kirjaudu
Haku
Hae
Kaikki osumat
Kaikki osumat
Otsikko
Tekijä
Aihe
Hae
Tarkennettu haku
Proceedings
Lisää suosikkeihin
Lähetä sähköpostilla
Vie viite
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Viitetiedot
Tulosta
QR-koodi
Proceedings
1
Edelliset kuvat
Seuraavat kuvat
lisää
vähemmän
Kuvaan voi liittyä käytön rajoituksia.
Katso käyttöehdot
Finna-arvio
Lisää ensimmäinen arvostelu. Kaikki arvostelut ovat julkisia.
Proceedings
Proceedings (Online)
DESC
SOURCE
Hae kokoteksti
Lataa…
E-kausijulkaisu
IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence
IEEE Computer Society
Tallennettuna:
Genre
Conference papers and proceedings
Ulkoasu
volumes : illustrations ; 28 cm
Kieli
englanti
Huomautukset
Title from journal fulltext screen (IEL Web site, viewed Jan. 3, 2005).
Julkaisija
Los Alamitos, Calif. :
IEEE Computer Society
Luokitus
dlc ISSN RECORD
dlc TA1650 .A67a
Dewey-luokitus
621
Aiheet
Optical pattern recognition
→
Congresses.
Pattern recognition systems
→
Congresses.
Image processing
→
Congresses.
Image processing.
Optical pattern recognition.
Pattern recognition systems.
Lisätiedot
Applied Imagery Pattern Recognition Workshop
Alasarja
2008 37th IEEE Applied Imagery Pattern Recognition Workshop
2012 IEEE Applied Imagery Pattern Recognition Workshop (AIPR)
2009 IEEE Applied Imagery Pattern Recognition Workshop (AIPR 2009)
2010 IEEE 39th Applied Imagery Pattern Recognition Workshop (AIPR)
36th Applied Imagery Pattern Recognition Workshop (aipr 2007)
34th Applied Imagery and Pattern Recognition Workshop (AIPR'05)
2011 IEEE Applied Imagery Pattern Recognition Workshop (AIPR)
Applied Imagery and Pattern Recognition Workshop, 2006. AIPR 2006. 35th IEEE
Muu ilmiasu
1550-5219
Jatkuu julkaisussa
IEEE Applied Imagery Pattern Recognition Workshop
Julkaistu
Began with 29th (Oct. 16/18, 2000)
Julkaisutiheys
Annual
ISSN
2332-5615
Huomautukset
Vols. also have distinctive theme titles
Sponsored by: IEEE Computer Society Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence
Hae kokoteksti
Lataa…
Näytä kaikki tiedot
Näytä vähemmän
Saatavuustiedot
Kommentit
(
0
)
Henkilökuntanäyttö
Saatavuustiedot
Kommentit (
0
)
Henkilökuntanäyttö
Tämän aineiston tarjoaa
Turun ammattikorkeakoulu
Kysymyksiä tai palautetta aineistosta?
Ota yhteyttä
Tämän aineiston tarjoaa
Turun ammattikorkeakoulu
Kysymyksiä tai palautetta aineistosta?
Ota yhteyttä
Lisää suosikkeihin
Share
Whatsapp
Lähetä sähköpostilla
Vie viite
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Viitetiedot
Saatavuustiedot